Minimum Featuresize

Minimum Featuresize

Minimum Featuresize (=F) ist eine Längeneinheit in der lithographischen Herstellung von Halbleiterelementen. Sie hat immer den Wert der kleinsten lithographisch herstellbaren Struktur. Da die Form und Zusammenstellung von Halbleiterelementen sich größtenteils nicht ändert, sondern nur die Herstellungstechnik, wird die Größe in Vielfachen der kleinsten Einheit angegeben (z. B. eine SRAM-Speicherzelle mit ca. 140 F² und eine DRAM-Speicherzelle mit ca. 6–10 F²).


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